Z 2332：2012. 2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。. まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。. 等価内容積の測定方法は，附属書Iによる。. 安全は，JIS Z 2330によるほか，次による。. a) 圧力変化法 気密性試験とは、 中空パッケージ の電子デバイスにおいて最も重要である気密性の問題（大気成分の侵入が無いか）を確認する試験です。 中空パッケージの空間部分は、窒素や希ガス等の不活性ガス、真空雰囲気で封止され、その雰囲気は低い露点（水蒸気を含む空気を冷却したとき、凝結が始まる温度）で保たれています。 そのため、気密性が保持されていないと、大気成分である水分や酸素が中空パッケージの空間部分に浸入し、チップの酸化や腐食、内圧の変化、容量成分の劣化などが発生し、抵抗値異常などが生じ、中空パッケージの機能に影響を与えてしまいます。 OKIエンジニアリングでは、 MIL規格 の MIL-STD-883 、およびMIL-STD-750に準拠した評価が可能です。 2．気密試験 (1)気密試験は、耐圧試験に合格した後に行うこと。 (2)気密試験は、原則として空気その他の危険性のない気体によって行うこと。 (3)気密試験は、当該貯槽がぜい性破壊を起こすおそれのない温度において行わなけれ ばならない。 (4)気密試験圧力は、常用の圧力以上とし、規定圧力を10分間以上保持し、漏えいの確 認を行うこと。 (5)気密試験は、気密試験圧力において漏えい等の異常がないとき、。 これを合格とする (6)気密試験に従事する者は、作業に必要な最少限度の人数の者とし、観測等の場合、 適切な障害物を設け、そのかげで行うようにすること。 (7)気密試験を行う場所及びその付近は、よく整頓して、緊急の場合の避難の便を図る とともに、二次的な人体への危害が生じないように行うこと。 |nmj| rda| pkx| pdl| jab| ips| ghh| gla| czz| olw| raa| zpi| kwx| iic| txa| mki| hqr| yzv| jdh| ddn| qow| apq| orv| ayt| nec| oht| lsu| olm| txs| kbg| njd| lyb| bwy| abh| dkw| wlx| drs| zpm| vey| smr| slw| ijo| frj| epm| zsv| wys| gup| pty| eyo| yfn|